在这次网络研讨会上，我们深入探讨了安全完整性系统 (SIF) 计算的复杂性。我们的内部专家将重点放在平均按需故障概率 (PFDavg) 及其与测试覆盖因子 (TCF) 的直接相关性上。
理解这种关系至关重要，因为它直接影响到最小证明测试间隔。我们将讨论为什么在计算平均按需故障概率时使用的测试覆盖因子应与现场实施的测试程序保持一致。
为了让您有一个全面的了解，我们将通过一个实际例子，向您演示如何使用故障模式和影响分析 (FMEA) 方法确定测试程序的测试覆盖因子。这种实用方法将为您提供必要的见解，帮助您有效评估和优化测试程序。
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📅日期： 2023 年 9 月 12 日2023 年 9 月 12 日
时间： 欧洲中部时间 16:30 | 美国中部时间 08:30
会见发言人
彼得-波尔德瓦特
SIFpro 高级领域专家
在 2021 年加入 Cenosco 之前，Pieter 曾在壳牌 P&T 担任功能安全工程师，拥有十多年的工作经验。
在此期间的大部分时间里，他担任 LOPA 主席和 SIF 生命周期顾问，负责壳牌和第三方的项目和培训计划。
目前，Pieter 是 Cenosco 的 IMS SIS/SIFpro 领域专家和工具培训师。
阿道夫-洛佩斯-加尔万
安全仪表系统领域高级专家
Adolfo 是一名化学工程师，拥有超过 12 年的安全工程经验。
他专门从事与 IMS SIS 相关的工作，如担任 HAZOP 和 LOPA 研讨会主席、开展 SIF 设计活动、确保工艺安全和消防、定量风险评估、环境研究，并获得了德国莱茵 TÜV 安全仪表系统的 FS 工程师认证。
阿道夫在演讲中带来了丰富的知识和实践经验。
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